イーエージー / ナノサイエンス

豊島区東池袋,  東京都 
Japan
http://www.nanoscience.co.jp/
  • 小間番号5412

弊社は、半導体の研究開発や故障解析で用いる表面分析の受託サービスを行っています。是非、お気軽にお立寄りください。

「微量不純物」受託分析サービス

 

EAG社で独自開発した分析技術・分析装置を用いて受託分析サービスを行っています。通常の分析装置では分析が難しい材料(セラミックス材料や絶縁材料)を高感度に不純物を測定できます。

 

① GDMS分析によるPV向けCdTe/CdS粉末試料中の元素評価

② SIMS 分析を用いたSiC材料の高精度不純物濃度評価

③ SIMS を用いた絶縁物材料(酸化膜、ガラス)中の金属不純物プロファイル評価

④ 正極材原材料中の不純物及び主成分濃度評価

⑤ SIMS分析による各種ガラス材料の不純物深さ方向分析

 

各種表面分析の受託分析サービス

EAG社は、SiCパワー半導体、LEDデバイスなど様々なデバイスに対して、独自の分析技術を開発して、受託分析サービスを行っています。またORS社では、MEMSや水晶デバイスの微量な内部ガスの受託分析サービスを行っています。

 

①SiCパワー半導体の分析事例

②LEDデバイスの分析事例

③FPD用ガラス基板の分析事例

④太陽電池の分析事例

⑤有機フィルムの分析事例

⑥酸化物半導体の分析事例

⑦Siパワー半導体の広がり抵抗測定の分析事例

⑧MEMSや水晶デバイスの内部ガス分析事例


 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
No
デモンストレーション/ Product Demonstrations
No
産業・技術分野/ Industries/Technologies
LED/solid state lighting, MEMS, 太陽光発電(PV)/Photovoltaic, パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor