サトウプロダクト

Osaka-shi,,  Osaka 
Japan
http://www.satopro.co.jp
  • 小間番号3229

半導体ウエハー向け次世代マクロ外観検査装置の発表を行います。(製品リリースは2017年4月を予定)

1μm/Pixの検出能力を持ちながら従来問題であった画像処理速度の低下を解消!

ランダム検査→全数検査を可能にすることにより、より一層お客様のプロセスコントロールをサポート致します。

膜厚ムラも同時測定を行い、異常があれば前工程へのアラートを送信可能!(GEM300対応)

ウェハ裏面の検査、エッジ検査機能もオプションとして用意しています。

半導体分野だけでなく、その他液晶分野など幅広くカスタマイズが可能です

是非、小間番号3229のサトウプロダクトのブースまでお越し頂き、装置のご紹介をさせて下さい。

 

コーヒーをご用意してお待ちしております。

 


 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
No
デモンストレーション/ Product Demonstrations
No
産業・技術分野/ Industries/Technologies
LED/solid state lighting, MEMS, 太陽光発電(PV)/Photovoltaic, プラスチック/有機/プリンテッドエレクトロニクス/Plastic/organic/flexible electronics, パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor