セカンドセムテスト

Ome-shi,,  Tokyo 
Japan
http://s-sem.com/
  • 小間番号1333


パワーモジュール、IPM/IPDのテストシステムの展示、実測デモを行います。

 当社製品は、デイスクリート半導体デバイス(~3kV/1200A)および、

それらを複合したバワーモジュールデバイスの静特性、過度熱抵抗の

測定を行うテスターです。

 


 出展製品

  • HT-1100パワーモジュールテスター
    IGBT/PowerMOSFET検査装置 ...

  • 【基本仕様】
      
    ■制御用コンピューター
    ■基本ユニット
        TT-1300(1kV/20A)
    ■高電圧ユニット
        HV-1000(3kV)
    ■大電流ユニット
        HC-1400(1200A)    
     
        〇機能 FET/IGBTの静特性測定
        〇特徴 耐圧、リークを含めた静特性全般の一括測定が可能。
              センスエミッタ(ソース)付きカレントセンスIGBT/FETのセンスレシオの測定。
      

     

     


 追加情報

初出展/New Exhibitor
Yes
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
Yes
産業・技術分野/ Industries/Technologies
パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor