日本電子材料

尼崎市西長洲町,  兵庫県 
Japan
http://www.jem-net.co.jp
  • 小間番号2721


Your Probing Partner をスローガンにテストソリューションに最適なProbe Cardを提案します。

日本電子材料は、用途・目的に応じた多彩なプローブカード製品とサービスを提供しております。

JEMブースではタイプ別Probe Card製品(Mタイプ(MEMS型)、Vタイプ(垂直型)、Cタイプ(カンチレバー型))をご紹介します。


 出展製品

  • Probe Card MC Series
    Mタイプ(MEMS型プローブカード) For DRAM/NANDFlash device ...

  • ・MEMS技術を応用した高精度なPA300mm-1TD
    ・高密度Probe実装と配線を実現する、PI薄膜多層ST
    ・高耐電流特性と高耐摩耗性能を提供する微細Probe
    ・短TAT対応型構造
  • Probe Card VT Series
    Vタイプ(垂直接触型プローブカード) For Peripheral Device...

  • ・微細ピッチ/狭PAD対応
    ・合金針の安定接触
    ・フレキシブルなマルチレイアウト
    ・-40~150℃の高低温の兼用可

     

  • Probe Card VS Series
    Vタイプ(垂直スプリング接触型プローブカード) For FlipChip/WL-CSP...

  • ・針先形状を、クラウン・フラット・ポイントなど選択可能
    ・クラウン形状は、ウェハ・テスト後の再リフロー不要
    ・ 1ピン単位での針交換が可能
  • Probe Card VE Series
    Vタイプ(垂直+カンチレバー複合型プローブカード) For CCD/CMOS Image Sensor...

  • ・合金針の安定接触と長寿命化
    ・低スクラブ化でAl屑の飛散防止
    ・-40~125℃の高低温の兼用可
    ・高周波特性の向上
  • Probe Card VC Series
    Vタイプ (垂直接触型プローブカード) For Flash...

  • ・合金針による安定接触
    ・12インチウェハー一括測定対応
    ・全パッド均一の低スクラブ痕

     


 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
No
産業・技術分野/ Industries/Technologies
MEMS