日本ナショナルインスツルメンツ

  • 小間番号2129


日本NIブースではコスト​効果​が​高​く、​高性能​なNI​テスト​ソリ​ュ​ー​ション​を展示します。

NIの半導体向けテストシステムは特性​評価​から​製造​まで、​RF/​ミックス​ド​シグナル​テスト​に​統一された​プラットフォーム​ベース​の​アプローチ​を​採用​する​こと​で実現できる、​コスト​効果​が​高​く​、高性能​なソリ​ュ​ー​ション​です。このテストシステム​を​使用​し​て​計測・​性能​要件​の​保守​を​行​っ​た​ユーザ​は、​テスト​に​かかる​時間​を​10​分​の​1​に​短縮​した​と​の​報告​がもあり​ます。

NIブースでは半導体テストシステム(STS)をはじめ、テストシステムのスマート化を実現する最新のNI製品を出展します。是非お立ち寄りください。


 出展製品

  • NI半導体テストシステムSTS
    PXIベースのNI半導体テストシステム(STS)は、モジュール式計測とシステム開発ソフトウェアを使用して、RFおよびミックスドシグナル製造テストを行うものです。...

  • NIの半導体テストプラットフォームは、広帯域で高いアナログ性能を誇るRFや高速・高精度なSMU、デジタルパターンテストに対応した各種PXIモジュールと、LabVIEWシステム開発ソフトウェア、TestStandテスト管理ソフトウェアなどで構成されています。設計開発と量産の双方にNIのプラットフォームを活用することで、テストコードなどの資産を再利用でき、計測結果の相関取りプロセスが不要になるため、製品の品質向上・コスト削減・製品の市場投入スピードの高速化を一挙に実現できます。
    http://www.ni.com/semiconductor-test-system/ja/


 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
No
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
Yes
産業・技術分野/ Industries/Technologies
半導体/Semiconductor