日本マイクロニクス

武蔵野市吉祥寺本町,  東京都 
Japan
http://www.mjc.co.jp
  • 小間番号1520

プローブカード、テスタ、ウェーハプローバ、テストソケット等 最新テストソリューションをご紹介いたします。 是非お越し下さい。

■プローブカード
・フリップチップ向け 垂直型MEMSタイプ 「MEMS-SP」
・針跡を小さくし、パッドダメージを低減した「小パッド対応カンチレバープローブカード」
・120,000ピンまで針立てを実現したメモリ向け「U-Probe」
・多数個同時測定に最適な垂直型ニードルタイプ「Vertical-Probe」

■狭ピッチ対応テストソケット
・高周波デバイスや小型パッケージの測定に適した「J-Contacts」
・接触安定性が高く、製品寿命の長い「BeeContacts」   

■コンパクトテスタ
・デバイス評価から量産まで対応したロジックテスタ

■大電流・動特性テストを実現したパワープローバ


 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
Yes
産業・技術分野/ Industries/Technologies
MEMS, その他/Other, パワー半導体/Power Semiconductors