ATEサービス

町田市,  東京都 
Japan
http://www.ate.co.jp
  • 小間番号1225


"Testing Technology World" ATEサービス株式会社

LSIテストに関わる様々なソリューションを展開しています。


 出展製品

  • テストソケット ( JF Microtechnology )
    ・IC/LSIプロダクションにおけるOEE(設備総合効率)を重視した,各種リード/リードレスパッケージ対応のテストソケットをラインアップ。 ・独自のコンタクトピンとハウジング構造を採用,大電流/ケルビンテストや高周波アナログテストなど,評価から量産まで幅広くカバー。...

  • ・ Zigma
        - 微小ワイプ
        - 広帯域 ~40GHz

    ・ Alpha
        - ケルビン測定
        - 大電流

    ・ Gamma
        - ケルビン測定
        - 精密温度コントロール

    ・ Eta.5
        - 小型パッケージ
        - 高周波測定

  • DUT加温/冷却システム
    スケルトン型ペルチェ素子を使った、デスクトップ型DUT加温・冷却システム...

    • 軽量・コンパクトなデスクトップ型DUT高温・低温テストシステム  
    • AC100V仕様の為、作業性が良く、低価格でランニングコストの低減。  
    • スケルトン型ユニサーモペルチェ素子の採用に依り、コンパクト/High Power  
    • ペルチェモジュール繰返し動作試験で10万回以上の動作可能  
    • 温度センサは、PT100Ω白金測温抵抗体  
    • RS232CポートにてPCに依る外部温度コントロール  
    • 2系統温度表示・5ch温度メモリー機能(オプション)
  • テスタインターフェース
    汎用タイプからカスタム設計/製作まで。各種LSIテスタ/プローバに対応。...

  • ・汎用/カスタム パフォーマンスボード

    ・ポゴリング

    ・プローバインターフェース

    ・テストヘッドマニピュレータ

  • PAT対応テストログ/イールドマネージメント (Mentor Graphics / Galaxy)
    LSIテストデータ解析ソリューション...

  • PAT-MAN: Part Average Testing & DPM低減

    Yield-MAN: 歩留まりモニタリング

    Examinator: デスクトップ テストデータ解析

  • SerDes計測モジュール ( Introspect Technology)
    高速シリアルデバイスのオンボードテスト...

  • ・プラグインモジュール
    ・マザーボード/テストボードへのダイレクトドック, BOST

    < SV1D >
    ・250Mbps~14Gbps
    ・Tx/Rx 各8レーン

    <SV2D>
    ・19Gbps~28Gbps
    ・Tx/Rx 各8レーン

    <SV3D>
    ・250Mbps~14Gbps
    ・Tx/Rx 各32レーン


 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
No
産業・技術分野/ Industries/Technologies
半導体/Semiconductor