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半導体試料観察が得意なFE-SEMのJSM-IT800i/isによるファンクションデモを実施します。また、新発売されたWindowlessEDSのGather-Xを展示、特性X線をより効率良く高感度で分析できます。あわせて理科学・計測機器や電子ビーム描画装置などの装置紹介とそれらの機器を用いた、データ解析事例の紹介なども行います。