- プローブ間にサンプルを入れるだけで、測定可能な簡易測定器
- 抵抗率/シート抵抗測定モードを簡単に切り替え
- JOGダイアルによる簡単な測定条件設定
- ※プローブ固定式のため、ご購入の前に数タイプのプローブから1タイプを選択となります。
測定対象
半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど）
新素材・機能性材料関連（カーボンナノチューブ、DLC、グラフェン、銀ナノワイヤーなど）
導電性薄膜関連（メタル、ITOなど）
シリコン系エピタキシャル、イオン注入サンプル
化合物半導体関連（GaAs Epi, GaN Epi, InP, Gaなど）
その他（※お問い合わせください）