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JEMブースではMEMS型プローブカードを展示してみなさまのご来場をお待ちしています。
▶Memory測定向けMC Series(DRAM、NANDFlash)
▶Fine-Pitch測定向けMT Series(SoC/MCU、MPU/AP)
MEMS技術を応用した高精度なPA300㎜-1TD
高密度Probe実装と配線を実現するPI薄膜多層ST
高電流特性と高耐圧性能を提供する微細Probe
短TAT対応型構造
MEMSプローブを採用した垂直型プローブカード
エリアアレイレイアウトに対応
Cupiller実装前測定に対応可能
高電流容量に対応
低針圧で安定接触
プローブ交換が可能