NanoVis Electronics Technologies (China) Limited
纳视电子科技(中国)有限公司成立于 2003 年，致力于提供高端半导体行业芯片测量设
备、失效分析设备、成品测试设备及相应技术支持服务，是原产于美国 , 以色列、日
本 、德国、马来西亚等多家全球知名半导体芯片制造设备供应商在中国区的独家代
理。
主要代理产品：
美国 Focused Test Inc. (FTI) 功率以及分立器件测试仪，可测器件为Mosfet,
SIDACTOR,TVS, Diodes等等，可测参数为DC,Rg,Qg,UIL,SCM,TMU,H parameter等等
美国 QFI. 微光分析显微镜 红外热成像仪
美国 Qualitau Inc. 硅片制造工艺可靠性测试仪、测试分析探针台及多通道探针半
导体可靠性测试仪，可测试HC/HCT, BiPolar, TDDB, EML 等可靠性数据
以色列 NOVA Measuring Instrument 半导体硅片制造高精度高速度测量系统，可用于
透明薄膜，TSV，BSI等的在线量测
日本 Nippon Scientific Co. (NSC) 塑封器件化学及激光自动开封机 / 干法芯片级刻
蚀系统
美国 Test solution Corp. 测试头运动支撑系统
马来西亚 Vis-Dynamics 芯片外观检测编带系统
美国EG Systems, 用于量产的高精度全自动探针测试台
我们专业的销售和服务团队的业务范围遍及全中国，在上海，北京，成都，武汉，无锡
设有售后服务点与中芯国际，华虹 NEC ，和舰科技，芯源系统 等多家芯片加工厂有密
切业务合作，同时也为中科院下属各研究所提供专业的芯片测试服务。
纳视电子科技 NanoVis Electronics Technologies
联系人：李思东 Stone Li
中国上海浦东新区新金桥路58号银东大厦18楼C座 邮编:201206
电话86-21-50307301,50307302,50307303 13901726608
传真: 86-21-50307283
Email:stoneli@nanovis.net
http://www.nanovis.net