半导体检测探针台

■ 晶圆或芯片级别探测, 提供精密定位
■ 功率与宽禁带器件探测  
■ 光电与光通信芯片/射频与毫米波器件

半导体电性测量

芯片/封装/模块测量/毫米波探测
精密DC/ RF 探针台
手动/半自动/4寸/6寸/8寸/12寸
设计验证(DV)/晶圆接受测试(WAT)/晶圆中间测试(CP)

应用
■  直流参数, 高频参数
■  高压, 大电流测试, IV, CV测试
■  负载牵引, 噪声参数
■  失效分析, 可靠性测试

特征
■  温度范围: -65℃~600℃
■  低漏电: fA
■  频率范围: 直流~太赫兹
■  纳米分辨率探针座

晶圆级全能电性測量探针台~欢迎来函咨询

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双程科技公司 SE TECHNOLOGIES CORP.

电阻率测量系统

应用领域

■ 半导体与电子封装, 硅晶圆, GaN/SiC衬底, ......   验证防漏电/防潮及静电耗散能力

■ 新能源电池: 锂电池隔膜/固态电解质

■ 材料分析/微米/纳米级探测

■ 航空航天&轨道交通: 卫星耐高温电缆/飞机复合材料

■ 汽车电子: 高压连接器/驱动电机绝缘纸/电池隔膜

四点探针电阻率测量系统

Van der Pauw 四点测量/方块电阻/膜厚/电阻率/电阻温度系数/

■ 手动, 半自动, 自动定位测量   
■ 可选测量范围: 1μΩ ~ 10GΩ
■ 可选温度范围: 常温 ~ 600℃
■ 多种四点探针头可选用
■ 可显示2D及3D阻值分布图
■ Kelvin探针或探针卡进行标准TCR测试

电阻率测量系统 犹如「材料电学 CT」, 欢迎来函咨询电阻率测量系统

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可靠性ESD测试解决方案 

系统/产品级抗静电能力验证, 集成电路与 IP 设计, 晶圆级可靠性监控

ESD, TLP测试设备

先进双针式技术

■  在片, 封装, ESD测试       

■  人体模型(HBM)/ 机器模型(MM) /人体金属模型(HMM)

    传输线脉冲(TLP)/ 超快速传输线脉冲(VF-TLP) 

自动双针测试

■  可程控任意测试点
■  正/负脉冲
■  测试点数可任意扩充
■  无需昂贵的测试夹具
■  在片测试, 封装测试

Reliability ESD Testing 犹如「静电寿命显微镜」, 让 IC、功率器件、LED 在静电环境下「零失效」出厂

欢迎来函咨询ESD Testing 更多资讯

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微米级和纳米级探测

极细间距参数探针卡

■ 微凸块(MicroBump)
■ 小芯片(Chiplet)
■ 微纳米级四点探针/电阻/片电阻和电阻率
■ 直流/高频测试

专业极细间距探针卡和测试系统
用于小芯片,先进封装和薄膜材料的精密测试应用

欢迎来函咨询更多产品讯息

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信号/电源完整性测量

大, 中, 小型测试板, 插座和器件封装上的测量

■ 高速连接器, 传输线
■ 各类电路板
    - 平面, 直立
    - 主板, 子板, 母子板
    - 二维, 三维, 立体板, 正交板
■  芯片封装
     - 倒装芯片, BGA 封装

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高频探针
芯片, 封装, BGA, PCB, 测试夹具, 背板,
高密度互连上进行探测

■ 单端探针, 双探针, 差分探针
■ 16GHz/18GHz/20GHz/30GHz/40GHz/65GHz/ ...... THz
■ GS/SG/GSG/GSSG/SS

更多 电性测量与射频探针~欢迎来函咨询

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