プローブカード、テストソケット、テスタ、ウェーハプローバ等最新のテストソリューションをご紹介致します。是非お越し下さい。
■プローブカード
・マイクロプロセッサ、SoCデバイス等、フリップチップタイプのウェーハテストに最適なロジックデバイス向けプローブカード「MEMS-SP」
・多数個同時測定に最適な垂直型ニードルタイプ「Vertical-Probe」
・パッドダメージの低減、同測数の増加を実現した小パッド対応カンチレバープローブカード
・1枚で2,000DUT、100,000ピン以上の針立ても可能なメモリデバイス向け「U-Probe」
■狭ピッチ対応テストソケット
・高周波デバイスや小型パッケージの測定に適した「J-Contacts」
・接触安定性が高く、製品寿命の長い「BeeContacts」
■コンパクトテスタ
・デバイス評価から量産まで対応したロジックテスタ
■ウェーハプローバ
・大電流・高電圧測定が可能なパワープローバ「PW-8000」
・コンパクトな基礎研究向けパーソナルマニュアルプローバ (実機展示)
・幅広いアプリケーションに対応した解析用プローバ
追加情報
初出展/New Exhibitor
No新製品/New Products
Yes製品展示/Displaying Equipment
Yesデモンストレーション/ Product Demonstrations
Yes産業・技術分野/ Industries/Technologies
MEMS, その他/Other, パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor
