日本バーンズ

中央区,  東京都 
Japan
http://www.barnes.co.jp
  • 小間番号1839


 出展製品

  • 高精度超音波顕微鏡「C-SAM Gen7」
    史上最も多機能な最新鋭C-SAMハイエンド機種。 サンプル内部の欠陥を非破壊かつ高精細に検出が可能です。...

    • QDZ(Quantitative Dynamic Z)機能搭載。
    • サンプルの表面反り形状に合わせてZ軸を上下に追従させながらスキャンが可能です。
    • 非水没式「Water Plume」、「Water Fall」機能対応。
    • FDI(Frequesncy Domain Imaging)機能搭載。(FFT解析が可能)
    • パワーデバイスやウエハー等のボイド・剥離検査に最適です。
    • 最高400MHzまで対応。

  • 高精度超音波顕微鏡「C-SAM Gen6」
    超音波顕微鏡C-SAMシリーズのハイエンド機種。 極小サンプルから12インチウエハーまで、様々なサンプルのボイド・剥離測定に対応。...

    • 最高400MHzでの測定が可能。
    • スタックダイ解析ツール「Sono Simulator」搭載。
    • PolyGateで最大100界面まで同時に測定可能。
    • TMM(厚さ計測プログラム)搭載。
    • プロファイルモードや時差モード、インテグラルモード等新しい計測モードを搭載。
    • Dynamic Trigger搭載。
  • ナノフォーカスX線検査装置「Quadra 7」
    最新デバイスの製品開発、不良解析、品質保証に適した次世代X線検査装置。 メンテナンス性に優れたシールドトランスミッシブタイプX線管を搭載し、業界トップクラスである0.1ミクロンの認識解像度と20WのX線出力を実現しました。...

    • メンテフリー仕様、シールド・トランスミッシブ管X線発生器 『Quadra NT』搭載
    • 認識解像度 0.1μm(10Wまで)/ 0.3um(20Wまで)
    • 管電圧30-160kV、最大出力20W
    • 6.7M pixel フラットパネル検出器『Aspire FP』搭載
    • 最大幾何学倍率 2,500培 デジタルズーム使用時最大 68,000倍
    • 大型テーブル 508 x 444mm を採用
    • 最大サンプル重量5kg、最大サンプル高さ210mmまで対応
    • X線検出器をMax70°傾動、観察ポイントを中心に360°方向から観察可能
    • マッピング機能を使って観察位置を指定、オートトラッキング機能により目標位置をずらさず観察可
    • エアーによる防振機構(AXiS)を標準装備

 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
Yes
産業・技術分野/ Industries/Technologies
LED/solid state lighting, MEMS, その他/Other, 太陽光発電(PV)/Photovoltaic, プラスチック/有機/プリンテッドエレクトロニクス/Plastic/organic/flexible electronics, パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor