コベルコ科研では、Si・サファイア・LT・貼り合わせウェーハの平坦度＆ナノトポおよびエッジ形状の精密測定、
ライフタイム測定等の当社独自の各種検査装置を、パネル展示などにより紹介します。
We will exhibit panels of original semiconductor inspection equipment, such as flatness, nano-topography, edge shape, and lifetime measurement for Si, sapphire, LT, bonded wafer.
追加情報
初出展/New Exhibitor
No新製品/New Products
Yes製品展示/Displaying Equipment
Noデモンストレーション/ Product Demonstrations
No産業・技術分野/ Industries/Technologies
パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor