シバソク

所沢市 若松町,  埼玉県 
Japan
http://www.shibasoku.com
  • 小間番号2010


パワー半導体におけるウエハー・チップ及びパッケージ・モジュール工程まで幅広い検査ソリューションをご提案いたします。

昨今の自動車電動化や省エネ・低炭素社会の流れを受け、パワー半導体の需要は急速に加速しています。
シバソクのパワー半導体テストシステムでは、当社が長年培ってきた技術を惜しみなく活用し、
パワー半導体の特性を高精度かつ高い再現性で測定することを可能としています。


車載向け各種デバイスを始めとして、電源IC、バッテリー管理IC、ドライバーICなどの
ロジックが複合する多ピンデバイス測定においても、次世代NEWテスタを使ったソリューションをご紹介いたします。


 出展製品

  • WL27Prime ミックスドシグナルLSIテストシステム
    新製品となるWL27Primeは、車載向けデバイス、電源IC、バッテリー管理IC、各種ドライバーICなどのロジック・パワーの混在する測定において、多ピン化に対応する為に開発されたWL27シリーズの後継品です。...

  • デジタル100MHz、1024pinまで対応、最大同時測定128個と機能を増やし、またWL25シリーズの各種モジュールを実装可能とすることで更にパフォーマンスも向上し、アナログ、ミックスド、パワーデバイスまでの幅広いジャンルのデバイス測定を可能としました。
  • パワー半導体テストシステム
    昨今の自動車電動化や省エネ・低炭素社会の流れを受け、パワー半導体の需要は急速に加速しています。シバソクのパワー半導体テストシステムでは、当社が長年培ってきた技術を惜しみなく活用し、パワー半導体の特性を高精度かつ高い再現性で測定することを可能としています。...

  • 【DCテストシステム】
    IGBT、IGBTモジュールのDC(静特性)測定用システムです。電流の立ち上がりを高速化することにより、大電流での発熱を抑え高精度な測定が可能です。


    【ACテストシステム】
    MOS/IGBTのAC(動特性)測定システムです。高精度な測定を可能とするため回路を最適化し、半導体素子にダメージを与えないために高速遮断可能な保護回路を搭載しています。

  • 低温チャンバー
    本装置は、ペルチェユニットのみを使用することにより、常温~-55℃の低温環境下における資料測定を実現します。 チラーを使用する冷却装置に比べて、装置構成が簡単でコンパクトになり、設置・取扱い及び保守を容易に行うことが出来ます。...

  • ペルチェユニットのみで-55℃環境を実現
    低温試験に対応 テスタメーカの強みを活かし、低温装置+電気試験をご提案。

    ステージ追加で高温試験(~250℃)にも対応。
    -55℃環境で結露なし。

  • ACテストシステム
    MOS/IGBTの動特性テストシステム 超低Lsを実現し、データシート値を再現。...

  • DUTやコンタクタへのダメージを最小限に抑える高速遮断の4種保護機能を内蔵。
    分かりやすく容易なプログラム生成ツール(PIPG)
    di/dt、dv/dt等の計測が容易な波形解析機能(MultiWave)
    高速SWデバイスにも対応可能

 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
Yes
産業・技術分野/ Industries/Technologies
パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor