パーティクル メジャリング システムズ/ スペクトリス

千代田区神田司町,  東京都 
Japan
http://www.pmeasuring-jp.com
  • 小間番号5330


パーティクルカウンター・環境モニタリングソリューションのご相談はこちらへどうぞ。専任スタッフと技術担当がお応えします。

東5ホール:ブース番号5330にてお待ちしております。

汚染モニタリングにおけるプロフェッショナル集団

Particle Measuring Systems は、管理された清浄な環境における汚染レベルを測定/監視する、生物粒子計数器および非生物粒子計数器に特化した企業です。1972 年以降、豊富な知識と経験を積んだチームが革新的なテクノロジーを開発し、クリーンルーム監視業界の発展に貢献してきました。  Particle Measuring Systems は、正確で信頼性の高い結果および情報をお客様に提供するテクノロジーを有する、粒子計測機器の製造および分子/微生物の監視における世界有数の企業です。

クリーンルームは、製品を製造するための管理環境であり、歩留まりの改善と規制要件への適合に欠かせません。Particle Measuring Systems は、精度の高い機器をアクティブに製造することで、クリーンルーム向け粒子計数器および汚染監視の業界を世界的にリードしています。完璧を実現するまでは決して満足しません。


 プレスリリース

  • 1972年創業、環境モニタリングのグローバルエキスパートであるパーティクルメジャリングシステムズ(スペクトリス株式会社PMS事業部)。SEMICON Japan 2018では気中・液中パーティクルカウンタを展示します。

    いつ、どこで製品が危険にさらされているかを継続的にモニタリングすることにより、当社はアプリケーションの専門知識と、歩留まりを低下させるために必要な高性能製品を提供します。

    お探しのアプリケーションに関する製品のご相談はぜひ当社ブースへお越しください。


 出展製品

  • Chem 20™ 液中パーティクルカウンター
    最先端の電子産業向け超純水および高品位薬液に含まれる不溶性微粒子を測定するために開発された、高感度の常時モニタリング装置です。...

  • Chem 20™ 液中パーティクルカウンタは、最先端の電子産業向け超純水および高品位薬液に含まれる不溶性微粒子を測定するために開発された、高感度の常時モニタリング装置です。Ultra DI®シリーズで実績のある光学系を更に進化させることにより、低偽計数で且つ優れた測定安定性を実現いたしました。

  • Nano-ID® NPC10 ナノパーティクルカウンター
    ISOクラス1の清浄度の高い環境から高精度に10nmの微細粒子から測定可能な凝縮型(CPC)気中パーティクルカウンターです。...

  • Nano ID NPC-10 は、清浄度の高い環境の測定に最も重要なバックグランドノイズ(ゼロカウント)を圧倒的に低い値を実現しました。
    また、測定の確度を確保する為に必要なサンプル流量も凝縮型パーティクルカウンターでは大容量の2.83L/分を確保しています。
    凝縮液は一般的に利用されているIPAや水ベースではなく、安全性も担保したグリセリンベースを使用し、連続測定も2000時間の長時間を行う事が出来ます。
    赤外線マトリックスを利用したタッチスクリーンによる高い操作性を持ち、測定データもUSBメモリー、LAN経由などによる転送が可能です。

  • SLSシリンジサンプリングシステム
    純水や薬液をサンプリングボトルより吸引し、液中に含まれる不溶性微粒子数を測定します。 オプションにて接液面を全てフッ素樹脂に変更することができます。 本装置は広範囲なバッチサンプリングアプリケーションに用いることができます。...

  • 純水や薬液をサンプリングボトルより吸引し、液中に含まれる不溶性微粒子数を測定します。 オプションにて接液面を全てフッ素樹脂に変更することができます。 本装置は広範囲なバッチサンプリングアプリケーションに用いることができます。
  • Lasair® III 110 気中パーティクルカウンター
    Lasair lll 110 は、半導体レーザーを搭載した最小粒径感度0.1 µm、流量28.3 L/minの気中パーティクルカウンターです。半導体レーザーは3年間の無償保証期間で運用コストの低減、信頼性の確保に寄与し、比類のない正確性を確保した装置です。...

  • 製品特長

    • 粒径測定範囲 : 0.1~5.0 μm/ 8チャンネル(粒径チャンネルは設定変更可)
    • サーマルプリンター内蔵
    • ISOクラス1~2の環境に直接排気できるフィルターを搭載可能(オプション)
    • 内蔵バッテリーによる7時間の連続測定が可能(オプション)
    • ISO14644やFS209E規格への換算
    • FacilityNetソフトウェアに対応した総合環境モニタリングの構築が可能
    • 測定データをフラッシュメモリにダウンロード、展開可能
  • AirSentry® II 分子汚染モニタ
    イオン移動度分光分析技術を採用した、AirSentryIIはクリーンルーム内の分子汚染レベルを常時モニタリングいたします。 検出可能な汚染物質は、センサー毎に、アンモニア、総合アミン、総合酸、塩化物です。...

  • 気中分子状汚染物質(AMC)モニタのAirSentryIIは、性能を念頭に置いて設計されました。新しいイオン移動度分光分析(IMS)セルにより、ppt(1兆分の1)の検出感度、高速反応、選択制の向上をもたらします。重要な監視ポイントの網羅と集中管理ソフトウェアプラットフォームにより、データ収集と分析が容易になります。高感度で連続収集されたデータなど、得られた汚染情報の価値を最大限に引き出すことで、分子状汚染物質の特定、制御、発生防止についてより確実な判断が可能になります。


 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
No
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
Yes
産業・技術分野/ Industries/Technologies
LED/solid state lighting, MEMS, その他/Other, 太陽光発電(PV)/Photovoltaic, プラスチック/有機/プリンテッドエレクトロニクス/Plastic/organic/flexible electronics, パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor