粒度分布測定：高出力レーザーと高感度検出器の組合せによりシングルナノ粒子からの測定を実現します。また、自己相関関数の累積高速演算処理機能、統計的に測定結果の信頼性を確認するリアルタイムトレンドグラフ表示機能、カイ二乗によるキュムラント法またはヒストグラム法の自動選択機能、コンタミや凝集の影響を排除するベースラインアジャストメント機能などユニークな機能があります。
ゼータ電位測定：静止層へ光学的調整が一切不要な構造を採用しているため、簡単にゼータ電位を測定することができます。また、PALS測定機能は高塩濃度条件下でのゼータ電位測定範囲を一層広げられます。
粒度分布、ゼータ電位測定共に共通の角型使い捨てセルを使用できますので、汚れの影響を受けず、またサンプル調整をし直すことなく両方の測定が可能です。
