テクトロニクス社/ケースレーインスツルメンツ社

港区,  東京都 
Japan
https://jp.tek.com/
  • 小間番号1909

弊社ブース(小間番号:1909)では、材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究/開発フェーズはもちろん、オン・ウェハ特性評価や信頼性試験などに最適な最新の計測ソリューションをご紹介します。また、プロセスモニタや、ダイソート向けの最新パラメトリック・テスタをご紹介します。効率化と導入コストの低減に貢献します。


 出展製品

  • ケースレーの最新パラメトリック・テスタ S535/S540/S530
    ケースレーの最新パラメトリック・テスト・ソリューション...

  • ウエハーレベルでのDC試験需要に応じた、最新の量産試験用半導体パラメトリック・テスト・ソリューションをご紹介します。低電圧から最大3KV まで、シームレスに測定評価が可能な最大48pin の完全自動、高速テスト・ソリューションや、マルチサイトの並列テストにより2倍の生産能力を実現するソリューションをご紹介します。

  • 4200A-SCS型パラメータ・アナライザ
    オールインワンの新世代パラメータ・アナライザ...

  • 日本語などのヘルプ動画を内蔵し、マニュアルを見ずに、3ステップでI-V、C-V、パルスI-V、トランジェント測定が可能な最新パラメータ・アナライザを展示します。これまでになかった簡単操作がご体験いただけます。

  • 2461型(大電流)/2651A型(50A)/2657A型(3KV)システム・ソースメータ
    ハイパワーデバイスに最適な1KWパルス・ソースメータ...

  • 電流コラプス評価などの大電流印加/高速測定アプリケーションに欠かせない高精度ソースメータを展示します。高解像度のタッチ・スクリーンによるスマートフォン感覚の直感操作を是非、一度ご体験ください。

  • 2018 新製品
    計測器最前線のトレンドを是非、お確かめください...

    • クラス・トップの低ノイズと高分解能を実現した最新のオシロスコープ6シリーズMSO
    • タッチで波形作成、リアルタイム波形モニタ搭載の任意波形/ファンクション・ジェネレータAFG31000シリーズ
    • GaN、SiCなどのスイッチング・デバイス評価に最適なIsoVu技術搭載光アイソレーション型差動プローブ
    • データ収録を容易に実現する最新のデータ・ロガーDAQ6510
  • ACS-BASIC 部品/デバイス特性評価ソフトウェア/2636B型システム・ソースメータ
    最強のソフトウェアによるI-V特性評価ソリューション...

  • ケースレーの部品/デバイス特性評価ノウハウを凝縮したACS-BASICソフトウェアと、2チャンネルのシステム・ソースメータの最強の組合せで、オン・ウェハ評価や、信頼性試験などのテスト時間は大幅に短縮されます。内蔵したテスト・ライブラリを使用すれば、煩雑な設定も不要になり、驚くほどシンプルな操作を是非、会場でご覧ください。


 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
No
産業・技術分野/ Industries/Technologies
パワー半導体/Power Semiconductors, 半導体/Semiconductor