日本ナショナルインスツルメンツ

  • 小間番号1612


複雑な半導体デバイスの評価・テスト要件に柔軟に対応でき、かつテストコスト削減に貢献できるプラットフォームをご覧ください。

ナショナルインスツルメンツ (NI) は、プラットフォームベースのテストアプローチを通じて、半導体デバイスメーカが抱えるテスト品質・カバレッジ、テストコスト、Time-to-Marketといった課題克服を支援しています。

NIのプラットフォームは、モジュール式計測ハードウェア「PXI」をベースとしています。ベンチトップ用ボックス型計測器と同等の計測性能が小型のモジュールに集約されており、各種RFIC、ミックスドシグナルIC、アナログIC、MEMS・センサ、光デバイスなど、種々のデバイスのテスト要件に応じて最適なテストシステムを構築できます。これまで、15,000台以上のPXIシステムが世界中の半導体評価ラボで活用されてきたのに加え、PXIをベースとしたATEである「NI半導体テストシステム (Semiconductor Test System, STS)」が半導体デバイスの製造テストに選ばれています。

これまでNIは、従来の200倍にのぼる評価スループット高速化5G基地局向けRFフロントエンドモジュールの迅速な製造テスト立ち上げSiPデバイスの製造テストにおける月額60,000米ドルのテストコスト削減など、半導体評価・テストの技術・ビジネス課題に貢献してきました。これらのブレークスルーをもたらした秘訣を、是非NIのブースでご覧ください。


 出展製品

  • NI STSを使用した半導体デバイスの製造テスト
    モジュール式計測システムをベースとした、高性能かつ柔軟性の高いNIの半導体ATE「NI STS」...

  • STSを使用した、モバイル高周波PAのファンクションテストのデモを紹介予定です。テストヘッド一体型であるSTSは、デバイスのピン数や同測数などに応じて、サイズの異なる3種類のテストヘッドを選択できます。SEMICON Japan 2018では、少ピン製品や製造ボリュームの小さい製品に最適なSTS T1、および、将来の増産に向けた拡張性を確保可能なSTS T2をご覧いただける予定です。
  • PXI SMUを活用した柔軟で低コストな半導体パラメトリックテスタ
    NIの最新ツールを活用して従来よりも低コストで柔軟性の高い半導体パラメトリックテストを構築...

  • NIのソースメジャーユニット (SMU) に、今年5月にリリースされた最新の対話的計測ソフトウェア「InstrumentStudio」を組み合わせて、非常に低コストな半導体パラメトリックテストシステムを構築できます。InstrumentStudioを使用すれば、プログラミング無しで基本的なDC計測を素早く進められます。また、微小電流計測に対応したSMU「PXIe-4135」を使用すれば、10 fAの電流分解能で計測を行えます。さらに、LabVIEWシステム開発ソフトウェアやPXIスイッチモジュールなどを組み合わせて、オープン・ショート計測などを含めたルーチン作業を自動化し、評価の生産性を高めることができます。
  • 5G NRに対応するRFIC評価・テストソリューション
    進化し続けるワイヤレス通信技術の新たなテスト要件に柔軟に対応できるモジュール式RFIC評価ソリューション...

  • 1 GHzの瞬時帯域幅を持つRF信号発生器・アナライザを統合したモジュール式RF計測器「ベクトル信号トランシーバ (VST)」や、生産性の高いRF計測ソフトウェア「NI-RFmx」を組み合わせて、第5世代移動通信 (5G) をはじめとした各種ワイヤレス通信規格に対応するRFICの評価・テストを行えます。5Gでは、波形パラメータ (Numerology) やキャリアアグリゲーションの組合せの自由度が向上したため、テストエンジニアは爆発的に増加したテスト項目をどのようにカバーするか苦心しています。5G向けRFICのテストに、ボックス型計測器と比較して飛躍的に高速な計測データ転送が可能 (参考資料) なPXIを採用することで、膨大な評価項目を迅速にテストし、テスト品質やTime-to-Marketの目標達成に近づくことができます。

  • ミックスドシグナルICの評価・テストソリューション
    様々なI/Oを柔軟に組み合わせてテスト要件に応じた評価・テストシステムを構築...

  • NIは、低コスト・多チャンネルのアナログI/O、振動・音響計測などに最適な高ダイナミックレンジI/O、高性能なソースメジャーユニット (SMU)、ATEと同等の使い勝手でテスト開発が可能なデジタルパターン計測器などのモジュール式PXI計測器を提供しています。これらを組み合わせることで、必要な性能のミックスドシグナルICの評価・テストシステムを最小限のコストで柔軟に構築できます。

 追加情報

初出展/New Exhibitor
No
新製品/New Products
Yes
製品展示/Displaying Equipment
Yes
デモンストレーション/ Product Demonstrations
Yes
産業・技術分野/ Industries/Technologies
LED/solid state lighting, MEMS, 半導体/Semiconductor