日本マイクロニクス

武蔵野市吉祥寺本町,  東京都 
Japan
http://www.mjc.co.jp
  • 小間番号2014

プローブカード、テストソケット、ウェーハプローバ、テスタ等最新のテストソリューションをご紹介致します。是非お越し下さい。

■プローブカード

・マイクロプロセッサ、SoCデバイス等、フリップチップタイプのウェーハテストに最適なロジック

デバイス向けプローブカード「MEMS-SP」

・多数個同時測定に最適な垂直型ニードルタイプ「Vertical-Probe」

・パッドダメージの低減、同測数の増加を実現した小パッド対応カンチレバープローブカード

・1枚で2,000DUT、100,000ピン以上の針立ても可能なメモリデバイス向け「U-Probe」

■狭ピッチ対応テストソケット

・高周波デバイスや小型パッケージの測定に適した「J-Contacts」

・接触安定性が高く、製品寿命の長い「BeeContacts」   

■ウェーハプローバ

・コンパクトな基礎研究向けパーソナルマニュアルプローバ (実機展示)

・幅広いアプリケーションに対応した解析用プローバ

■コンパクトテスタ

・デバイス評価から量産まで対応したロジックテスタ