コベルコ科研

神戸市西区高塚台,  兵庫県 
Japan
http://www.kobelcokaken.co.jp/leo/
  • 小間番号5974

コベルコ科研では、Si・サファイア・LT・貼り合わせウェーハの平坦度&ナノトポおよびエッジ形状の精密測定、

ライフタイム測定等の当社独自の各種検査装置を、パネル展示などにより紹介します。

 

We will exhibit panels of original semiconductor inspection equipment, such as flatness, nano-topography, edge shape, and lifetime measurement for Si, sapphire, LT, bonded wafer.