TFF テクトロニクス社

港区,  東京都 
Japan
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  • 小間番号2230

弊社ブース(小間番号:1909)では、材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究/開発フェーズはもちろん、オン・ウェハ特性評価や信頼性試験などに最適な最新の計測ソリューションをご紹介します。また、プロセスモニタや、ダイソート向けの最新パラメトリック・テスタをご紹介します。効率化と導入コストの低減に貢献します。