ナノメトリクス・ジャパン

品川区,  東京都 
Japan
http://www.nanometrics.com
  • 小間番号8124

光学式測定・検査装置専業メーカーであるNanometrics社は、幅広い計測技術により様々なデバイスのプロセス管理をサポートいたします。

Si半導体のみならずSiC/GaNデバイスを含め、先端ロジック・メモリー用途からSSDやHHD等のストレージデバイス、そして高輝度LEDやパワーデバイスを含むディスクリートデバイスの歩留まり管理に貢献いたします。

先端デバイス向けではOCD測定によりCD管理のみならずプロファイル測定や、膜厚および膜質コントロールを提供します。

また、次世代先端レベルパッケージ用途では、ウェハオーバーレイやTSV深さ測定などのバックエンド向けのプロセス管理も提供しています。