TFF テクトロニクス社

港区,  東京都 
Japan
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  • 小間番号2230

弊社ブース(小間番号:2230)では、材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究/開発フェーズにおけるオン・ウェハ特性評価や信頼性試験、不良解析などの作業効率化と導入コストの低減に貢献するソリューションをご提案します。また、タッチ・スクリーン式ソースメータにより実現する最新のベンチトップ型カーブトレーサをご紹介します。


 出展製品

  • ケースレーの最新パラメトリック・テスト・ソリューション
    ウエハ・レベルでのDC試験需要に応じた、最新の量産試験用半導体パラメトリック・テスト・ソリューションをご紹介します。...

  • 低電圧から最大3KV まで、シームレスに測定評価が可能な最大48pin の完全自動、高速テスト・ソリューションや、マルチサイトの並列テストにより2倍の生産能力を実現するソリューションをご紹介します。
  • 4200A-SCS型 パラメータ・アナライザ
    オールインワンの新世代パラメータ・アナライザ...

  • 日本語などのヘルプ動画を内蔵し、マニュアルを見ずに、3ステップでI-V、C-V、パルスI-V、トランジェント測定が可能な最新パラメータ・アナライザを展示します。これまでになかった簡単操作がご体験いただけます。

  • 2470/2657A/2651A型 システム・ソースメータ
    ハイパワーデバイスに最適な高電圧/大電流ソースメータ...

  • ブレークダウン試験やリーク電流試験などのパワーデバイス評価に最適な1kV高電圧ソースメータと、大電流印加/高速測定アプリケーションに欠かせない1kWの高精度パルス・ソースメータを展示します。また、高解像度のタッチ・スクリーンによるスマートフォン感覚の直感操作可能な新製品2470型もご覧いただけます。
  • NEW!低コストのカーブトレーサ
    タッチ・スクリーン式ソースメータにより実現するベンチトップ型のカーブトレーサをご紹介します。...

  • 従来のカーブトレーサ同様、ロータリーノブを使い、リアルタイムで印加電圧/電流のカーブを調整できます。ダイオードなどの2端子半導体デバイスのV-I特性評価に最適なソリューションを低コストでお使い頂けます。シンプルな操作方法を是非会場でお試しください。
  • 2636B型 2ch システム・ソースメータ
    部品/デバイス評価に必須、最強のI-V特性評価ソリューション...

  • 最小分解能0.1fAを持つ高性能2チャンネルのシステム・ソースメータと、ケースレーの部品/デバイス特性評価ノウハウを凝縮したACS-BASICソフトウェアとの最強の組合せで、パラメータ・アナライザの約半分のコストでほぼ同等な測定性能が実現できます。内蔵のテスト・ライブラリにより、煩雑な設定も不要になり、驚くほどシンプルな操作を是非、会場でご確認ください。