日本ナショナルインスツルメンツ

  • 小間番号2266

複雑な半導体デバイスの評価・テスト要件に柔軟に対応でき、かつテストコスト削減に貢献できるプラットフォームをご覧ください。

ナショナルインスツルメンツ (NI) は、プラットフォームベースのテストアプローチを通じて、半導体デバイスメーカが抱えるテスト品質・カバレッジ、テストコスト、Time-to-Marketといった課題克服を支援しています。

NIのプラットフォームは、モジュール式計測ハードウェア「PXI」をベースとしています。ベンチトップ用ボックス型計測器と同等の計測性能が小型のモジュールに集約されており、各種RFIC、ミックスドシグナルIC、アナログIC、MEMS・センサ、光デバイスなど、種々のデバイスのテスト要件に応じて最適なテストシステムを構築できます。これまで、15,000台以上のPXIシステムが世界中の半導体評価ラボで活用されてきたのに加え、PXIをベースとしたATEである「NI半導体テストシステム (Semiconductor Test System, STS)」が半導体デバイスの製造テストに選ばれています。

これまでNIは、従来の200倍にのぼる評価スループット高速化5G基地局向けRFフロントエンドモジュールの迅速な製造テスト立ち上げSiPデバイスの製造テストにおける月額60,000米ドルのテストコスト削減など、半導体評価・テストの技術・ビジネス課題に貢献してきました。これらのブレークスルーをもたらした秘訣を、是非NIのブースでご覧ください。