ユーロフィンイーエージー

豊島区,  東京都 
Japan
http://www.nanoscience.co.jp/
  • 小間番号7501

弊社は、半導体の研究開発や故障解析で用いる表面分析の受託サービスを行っています。是非、お気軽にお立寄りください。

弊社は表面分析(SIMS, GDMS,TEM など)の受託サービスをご提供しています。弊社は独自の分析技術の開発し、自社で市販の分析装置を発展させ、特長のある受託分析サービスを行っています。

今年は弊社(旧EAG社)が得意とするSiC&GaNパワーデバイス、LEDデバイスの表面分析事例を中心にご紹介いたします。

今年からアトムプローブ(3D ATP)による分析サービスをスタート致しました。

「微量不純物」受託分析サービス

弊社が独自開発した分析技術・分析装置を用いて受託分析サービスを行っています。通常の分析装置では分析が難しい材料(セラミックス材料や絶縁材料)を高感度に不純物を測定できます。

① GDMS分析によるPV向けCdTe/CdS粉末試料中の元素評価

② SIMS 分析を用いたSiC材料の高精度不純物濃度評価

③ SIMS を用いた絶縁物材料(酸化膜、ガラス)中の金属不純物プロファイル評価

④ 正極材原材料中の不純物及び主成分濃度評価

⑤ SIMS分析による各種ガラス材料の不純物深さ方向分析