日本ナショナルインスツルメンツ

  • 小間番号2266


複雑な半導体デバイスの評価・テスト要件に柔軟に対応でき、かつテストコスト削減に貢献できるプラットフォームをご覧ください。

ナショナルインスツルメンツ (NI) は、プラットフォームベースのテストアプローチを通じて、半導体デバイスメーカが抱えるテスト品質・カバレッジ、テストコスト、Time-to-Marketといった課題克服を支援しています。

NIのプラットフォームは、モジュール式計測ハードウェア「PXI」をベースとしています。ベンチトップ用ボックス型計測器と同等の計測性能が小型のモジュールに集約されており、各種RFIC、ミックスドシグナルIC、アナログIC、MEMS・センサ、光デバイスなど、種々のデバイスのテスト要件に応じて最適なテストシステムを構築できます。これまで、15,000台以上のPXIシステムが世界中の半導体評価ラボで活用されてきたのに加え、PXIをベースとしたATEである「NI半導体テストシステム (Semiconductor Test System, STS)」が半導体デバイスの製造テストに選ばれています。

これまでNIは、従来の200倍にのぼる評価スループット高速化5G基地局向けRFフロントエンドモジュールの迅速な製造テスト立ち上げSiPデバイスの製造テストにおける月額60,000米ドルのテストコスト削減など、半導体評価・テストの技術・ビジネス課題に貢献してきました。これらのブレークスルーをもたらした秘訣を、是非NIのブースでご覧ください。


 出展製品

  • ミリ波・サブ6 GHz両対応5G NR向け高周波デバイスの評価・テストソリューション
    進化し続けるワイヤレス通信技術の新たなテスト要件に柔軟に対応できるモジュール式RFIC評価ソリューション...

  • 第5世代移動通信 (5G) では、これまで移動通信で活用されてきた6 GHz以下の周波数帯 (サブ6 GHz) に加え、28 GHz帯、39 GHz帯などのミリ波帯を使用することが、旧世代規格と比較した大きな変化となっています。また、5Gでは波形パラメータ (Numerology) やキャリアアグリゲーションの組合せの自由度が向上したため、テストエンジニアは爆発的に増加したテスト項目をどのようにカバーするか苦心しています。開発期間・コストが限られる中で、サブ6 GHzに加えミリ波帯のテストをどのように行うかが、5Gの商用化成功を大きく左右します。

    NIでは、サブ6 GHzとミリ波帯の両方にシームレスに対応でき、かつ市場で最も高い部類のテスト速度を達成可能な、5G向け高周波デバイスの評価・テストソリューションを提供しています。その中核技術となるのが、最大44 GHzに対応し、1 GHzの瞬時帯域幅を持つRF信号発生器・アナライザを統合したモジュール式RF計測器「ベクトル信号トランシーバ (VST)」です。VSTは、ボックス型計測器と比較して飛躍的に高速な計測データ転送が可能 (参考資料) なPXIを土台としており、膨大な評価項目を迅速にテストし、テスト品質やTime-to-Marketの目標達成に近づくことができます。さらに、並列演算処理を活かして高速なRF信号生成・解析が可能なRF計測ソフトウェア「NI-RFmx」を組み合わせることで、第5世代移動通信 (5G) をはじめとした各種ワイヤレス通信規格に対応する高周波デバイスの評価・テストを行えます。
  • ミニLED・マイクロLEDのテストに最適なDCリソース
    ミニLED・マイクロLEDのテスト要件に対応し、低コストなピン単価を実現するVI計測リソース...

  • 次世代のディスプレイ技術として、ミニLED・マイクロLEDが注目されています。NIが提供するモジュール式のソースメジャーユニット (SMU) を活用することで、高性能かつ柔軟なチャンネル拡張が可能なLEDテストシステムを構築できます。なかでも、1台のPXIモジュールに24のSMUチャンネルを内蔵した「PXIe-4163」は、ミニLED・マイクロLEDのテストに十分な出力性能を有しており、かつSMUチャンネルあたりの単価を非常に低く抑えることができます。加えて、NIのSMUには、内蔵FPGAのデジタル閉ループ制御を用いて負荷のインピーダンスに応じてSMUの過渡応答特性を調整可能な特許技術「SourceAdapt (遷移先ページ上の動画「過渡応答特性のカスタマイズ」参照)」を有しており、テスト対象デバイスに応じてSMUの応答を最適化し、計測精度やテストスループットを最適化できます。

  • アナログ・ミックスドシグナルICの評価・テストソリューション
    様々なI/Oを柔軟に組み合わせてテスト要件に応じた評価・テストシステムを構築...

  • NIは、低コスト・多チャンネルのアナログI/O、振動・音響計測などに最適な高ダイナミックレンジI/O、高性能なソースメジャーユニット (SMU)、ATEと同等の使い勝手でテスト開発が可能なデジタルパターン計測器などのモジュール式PXI計測器を提供しています。これらを組み合わせることで、各種アナログ (リニア) ICやミックスドシグナルICの評価・テストシステムを最小限のコストで柔軟に構築できます。

  • NI STSを使用した半導体デバイスの製造テスト
    モジュール式計測システムをベースとした、高性能かつ柔軟性の高いNIの半導体ATE「NI STS」...

  • STSを使用した、モバイル高周波PAのファンクションテストのデモを紹介予定です。テストヘッド一体型であるSTSは、デバイスのピン数や同測数などに応じて、サイズの異なる3種類のテストヘッドを選択できます。SEMICON Japan 2019では、少ピン製品や製造ボリュームの小さい製品に最適なSTS T1、および、将来の増産に向けた拡張性を確保可能なSTS T2をご覧いただける予定です。