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当社は、光学部品・光学機器の開発、製造、販売を手がける光学メーカーです。光学部品・光学機器のことなら、ご相談ください。
近赤外歪検査器LSM-9100WNIRは、有色樹脂や、シリコンウェハの歪(ひずみ)検査測定範囲を3000ナノメートルまでに広げた簡単操作の検査器です。
従来では困難であった様々な大きさ・形状の有色樹脂やシリコンウェハの歪を全自動で定量測定することが可能で、成型条件の検討や工程内の品質管理に活用頂けます。独自の近赤外3波長偏光方式により、30nmから3000nmまで測定できます。
偏光技術と自社開発の専用ソフトにより、有色樹脂の歪（ひずみ）やシリコンウエハの残留応力の定量測定およびクラック検査もできます。
製品を検査器に置き、測定ボタンを押すだけです。1回の測定で製品全面（測定有効サイズ：約φ100mm）の歪を定量測定、専用ソフトでデータ解析でき、製品品質の確認と証明ができます。