カールツァイス

千代田区,  東京 
Japan
http://www.zeiss.co.jp/microscopy/
  • 小間番号5134


ご来訪、ありがとうございます。 新素材や先端デバイスの開発と分析、その高効率化・迅速化を支えるのがZEISSの顕微鏡です。

カールツァイスは革新的な顕微鏡システムメーカーとして、ナノテク産業界のお客様に研究開発のための総合的なソリューションを提供いたします。新素材や先端デバイスの開発と分析、そしてその高効率化・迅速化を支えるのがカールツァイスの顕微鏡技術です。


 出展製品

  • ZEISS GeminiSEM 電界放出型走査電子顕微鏡
    ​サブナノメートル分解能の撮像、分析、および柔軟性への高度な要求を満たすために ZEISS GeminiSEMはサブナノメートル分解能の撮像が容易になります。材料科学や生命科学において、要求が最も厳しいプロジェクトにお使いください。電子光学系とチャンバのデザインが新しくなり、画質、使いやすさ、および柔軟性が向上。卓越した撮像と分析の機能を融合しています。また、イマージョンレンズを用いずに、1 kV以下でサブナノメートル分解能の撮像ができます。3種類のGemini光学系をご利用いただけます。...

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  • ZEISS Crossbeam
    ハイスループットで3D解析とサンプル加工を実現。 先端材料の開発および設計をさらに容易に。 高分解能電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)のイメージングと分析性能を、次世代集束イオンビーム(FIB)の加工能力と組み合わせたZEISS Crossbeam。官公庁の研究機関や研究所など、複数のユーザーが利用する施設で研究開発を行っている方々にも役立ちます。 既存のシステムを必要に応じてアップグレード可能。CrossbeamによってFIBを使用する作業を高速化できます。...

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  • ZEISS Xradia Versa
    3D X線顕微鏡で高速サブミクロンイメージング。 検査の枠を超えて、新しい発見。 ZEISS Xradia Versa Familyの最先端3D X線顕微鏡は、科学研究や産業研究において新たな段階へ。 業界最高レベルの分解能とコントラストをもとに、ZEISS Xradia 610/620 Versaは非破壊サブミクロンスケールイメージングの限界を超えます。...

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