テクトロニクス／ケースレー

港区, 東京都
Japan
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弊社ブースでは、材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究／開発フェーズにおけるオン・ウェハ特性評価や信頼性試験、不良解析などの作業効率化と導入コストの低減へのソリューションとともに、量産テストに貢献するソリューションをご提案します。

展示ブースでご紹介する製品／ソリューション

S530パラメトリック・テスト・ソリューション　KTE Ver7.1

4200A-SCS　パラメータ・アナライザ　

Kick Start 2.6 　ベンチ・テストの自動化に最適なソフトウェア

I-V特性評価ソフトウェアACS Basic Edition 3.0 and Standard Edition6.0

世界トップ・クラスの低ノイズ、6シリーズBオシロスコープ／GaN、SiC評価に最適な光アイソレーション型差動プローブ

ハイパワーデバイス評価 Miniシステム

KeithleyのSMUラインアップと最新のACS BASIC EDITON ソフトウェアを使ったシンプルかつ高精度のパワー・デバイス評価ソリューションを、2657A 3KVSMU、2651A 大電流SMU、測定治具とともに、Miniシステムとしてご紹介します。

S530パラメトリック・テスト・ソリューション　KTE Ver7.1

ケースレーS530シリーズ・パラメトリック・テスト・システム最新バージョンKTE V7.1ソフトウェアをご紹介します。... More Info Less Info

KTE V7.1では、パラレル・テスト機能が追加され生産性の向上とテスト・コストの削減を実現することが可能となりました。また、高電圧デバイス向けシステムでは新たなパワー、およびワイド・バンドギャップ・アプリケーションのための独自の高電圧キャパシタンス・テスト新機能について紹介します。

4200A-SCS　パラメータ・アナライザ

新しいSMUモジュール4201-SMU、4211-SMUにより安定した微小電流測定をサポートします。... More Info Less Info

また、正確なC-V特性評価を実現する4215-CVUモジュールや、1Vrmsテスト信号によって低ノイズの静電容量測定を最新のClariusソフトウェアバージョンについてもご紹介します。

Kick Start 2.6 　ベンチ・テストの自動化に最適なソフトウェア

KickStartソフトウェアは、テストベンチでよく利用されるさまざまな基本測定器、データロガー、オシロスコープ、デジタルマルチメータ、電源、SMUなどを素早く統合します。... More Info Less Info

迅速なテストのセットアップ、データの視覚化についてご覧いただきます。また、Kick Startが提供する「材料から半導体デバイスの評価」をカバーした最新のIV特性評価アプリケーションにより、簡易的なIV特性評価の容易な実現手法についても紹介します。

I-V特性評価ソフトウェアACS Basic Edition 3.0 and Standard E

半導体デバイス評価でプロフェッショナルの要求に応えるACS ソフトウェアの最新バージョンをご紹介します。... More Info Less Info

汎用性に優れたアーキテクチャにより、半導体デバイス試験の幅広く、常に変化する測定要件を満たすことを可能にしています。新しいバージョンでは現行のKeithley SMUを全てカバーしています。内蔵のテスト・ライブラリにより、煩雑な設定も不要になり、驚くほどシンプルな操作をぜひ会場でご確認ください。

世界トップ・クラスの低ノイズ、6シリーズBオシロスコープ／GaN、SiC評価に最適な光アイソレーショ

次世代オシロスコープ、6シリーズB MSOは世界トップの低ノイズ性能に加え、12ビットADC搭載、最高16ビットの垂直分解能により、微小電圧波形やリップル評価、観測に最適です。周波数帯域は1GHz~10GHz、最大チャンネル数は8チャンネルです。... More Info Less Info

TIVPシリーズは光アイソレーション技術により完全にガルバニック絶縁可能なIsoVU技術による革新の差動ブローブです。GaNやSiCのハイサイドなど、従来コモンモード・ノイズに隠れていた波形が観測可能です。