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弊社ブースでは、材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究/開発フェーズにおけるオン・ウェハ特性評価や信頼性試験、不良解析などの作業効率化と導入コストの低減へのソリューションとともに、量産テストに貢献するソリューションをご提案します。
展示ブースでご紹介する製品/ソリューション
S530パラメトリック・テスト・ソリューション KTE Ver7.1
4200A-SCS パラメータ・アナライザ
Kick Start 2.6 ベンチ・テストの自動化に最適なソフトウェア
I-V特性評価ソフトウェアACS Basic Edition 3.0 and Standard Edition6.0
世界トップ・クラスの低ノイズ、6シリーズBオシロスコープ/GaN、SiC評価に最適な光アイソレーション型差動プローブ
ハイパワーデバイス評価 Miniシステム
KeithleyのSMUラインアップと最新のACS BASIC EDITON ソフトウェアを使ったシンプルかつ高精度のパワー・デバイス評価ソリューションを、2657A 3KVSMU、2651A 大電流SMU、測定治具とともに、Miniシステムとしてご紹介します。