日邦プレシジョン

韮崎市,  山梨県 
Japan
  • 小間番号3124

半導体電気特性測定装置「Tera Evaluator」を出展します。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。

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203 装置、検査及び測定
  • 分光計：フーリエ変換赤外分光（FTIR)/減衰全反射FTIR(ATR-FTIR)/オージェ電子(AES)/SIMS
  • 膜厚：厚さ/均一性測定/エリプソメーター
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