プローブカード、テストソケット、ウェーハプローバ、テスタ等最新のテストソリューションをご紹介致します。是非お越し下さい。
■プローブカード
・マイクロプロセッサ、SoCデバイス等、フリップチップタイプのウェーハテストに最適なロジックデバイス向けプローブカード「MEMS-SP」
・多数個同時測定に最適な垂直型ニードルタイプ「Vertical-Probe」
・1枚で2,000DUT、100,000ピン以上の針立ても可能なメモリデバイス向け「U-Probe」 (実機展示)
■狭ピッチ対応テストソケット
・高周波デバイスや小型パッケージの測定に適した「J-Contacts」
・接触安定性が高く、製品寿命の長い「BeeContacts」
■ウェーハプローバ
・コンパクトな基礎研究向けパーソナルマニュアルプローバ
・幅広いアプリケーションに対応した解析用プローバ
■カスタムテスタ
・デバイス評価から量産まで対応したカスタムテスタ