ブルカージャパン

中央区新川,  東京都 
Japan
http://www.bruker-jp.com
  • 小間番号5826

Categories

203 装置、検査及び測定
  • Ｘ線：ＸＲＦ/3次元Ｘ線/レキシスシステム
  • ウェーハ：基板測定/トポロジ/ナノトポグラフィ/平坦度測定/結晶方位
  • ダイ検査/ダイの切り出し
  • 欠陥/パーテクル/バンプ/汚染検出、評価、検査
  • 膜厚：厚さ/均一性測定/エリプソメーター
  • 表面測定
  • 顕微鏡：原子間力顕微鏡（AFM)
    • 204 装置、MEMS
  • ウェーハレベルボンダー
    • 206 太陽光発電装置
  • ウェーハ
  • 検査と計量
  • 薄膜
    • 207 装置、プロセス
  • バンプシステム
  • 積層化：物理的位相成長 (PVD)/ スパッタ/蒸着装置
  • 結晶成長および加工装置
    • 208 装置、テスト
  • デスクリート部品テスト装置
  • 不良解析装置
  • 分析；回路/マニュアル/電子ビーム/光学/ウェーハプローバを含むプローブ装置
    • 305 材料、ナノテクノロジー
  • 材料；ナノテクノロジー
    • 307 材料、プロセス
  • CMP/グラインド/ラップ/研磨/研磨剤
  • インゴット
    • 308 材料、基板
  • MEMS用薄膜及び厚膜基板
  • SOI/SOS/シリコンカーバイド
  • エピタキシャル/Epi/ゲッタード/内部ゲッターウェーハ
  • ガリウム・ヒ素（GaAs);サファイヤ基板
  • 化合物半導体（GaAs、GaN、InP、SiGe）
  • 歪シリコン/加工基板
  • 試験/モニターウェーハ：再生またはバージン
    • 500 工場のモニタリングと制御システム(FMCS)
  • プロセス管理
    • 501 HVAC、温度、湿度、汚染の制御
  • 汚染管理；HEPAフィルタリングシステム
    • Loading ...

    :
    :


    Legend
    Available Timeslot
    Scheduled Appointment
    Personal Appointments
    Appointment Request
    Blocked Timeslot
    Restricted Timeslot
    Cancelled
    Declined