クロマジャパン

評価やテスト開発に理想的なChroma 3110-FTは、ファイナルテストやシステムレベル テストにおけるICテストに対して革新的なハンドラーです。本ハンドラーは、様々なデ バイスタイプや、様々なデバイスサイズ（3x3mmから45x45mm）をハンドリングする ことが可能です。更に生産性を上げるために、3110-FTはオプションにてリモートコン トロールを提供します。リモートコントロールは、インターネット接続により、別の 場所からハンドラーを操作することを可能とします。また、2つのオート分類トレイと 2つのマニュアル分類トレイの装備により、コストと時間を節約するため、3110-FTは 1.4mm2のフロアスペース内でハンドリング能力を最大限発揮します。

3110-FTは、ほとんどの工業標準インタフェースをサポートする様に設計されているとともに様々なテスタに対応するため、異なった接続オプションを用意しています。また、デバイスの耐久性を確認する-40℃～+125℃のテスト環境をサポートすることが可 能です。加えて、ユーザーにフレンドリーなグラフィックインタフェースと機敏なデバ イスのセットアップにより、ハンドリングは短く容易であり、更にフレキシビリティと 生産性を増加しています。

オプション

■1～10kg のコンタクト力制御
■ソケット温度制御機能（STCM)
■システムレベルテスト（SLT）可能

半導体は、高集積化及び高機能化により、多くの用途に使われ進化しています。
この進化に対応できる高機能テスタが、求められています。

Chroma最新3680テストシステムは、デバイスの幅広い機能及び、様々なテスト要求に応えられる、柔軟なシステム構成を準備しています。 テストヘッドにいろいろな測定機能基板を、実装できるスロットを、24か所準備しています。
デジタル測定として、最大2048ピン／測定速度１Ｇｂｐｓ／ベクタメモリ容量256ＭＷ／総合タイミング精度±150ｐｓの高精度高速を実現できます。
また、アナログ測定として、ＨＤＡＤＤＡ２（高速ＡＤＣ／ＤＡＣ測定機能）／ＨＤＶＩ（高電圧測定機能）／HＤＡＶＯ（高周波測定機能）／400ＭｓｐｓＡＷＧ（任意波形発生機能）、250ＭｓｐｓＤＩＧ（デジタイザ機能）／高精度高周波測定用24ビットＡＷＧ＆ＤＩＧのオプションをそろえています。

3680は、ＡＣ／ＤＣ電源用メインフレームからテストヘッドに電源を供給します。
また、テストヘッドをマニュピュレータで抱えることで、各種自動機（ハンドラ／プローバ）に、容易に接続することができます。

本システムは、高効率測定／多数個同時並列測定により、開発現場及び量産現場の生産性向上に寄与します。
また、高速／高精度／高信頼性及び、使いやすい操作環境で、各種民生用デバイス／高機能マイクロプロセッサ／アナログデバイス／ＳＯＣ測定のサポートをします。

用途

• マイクロプロセッサ (MCU)
• デジタルオーディオ
• デジタルＴＶ (DTV)
• 放送機器用デバイス(STB)
• 高速信号処理プロセッサ (DSP)
• ネットワークプロセッサ
• プログラム可能ゲートアレイ(FPGA)