AEHR Test Systemsは米国カリフォルニア州に拠点を置くBurn In Test Systemの老舗です。
再生可能エネルギーやEVに向けてのSiC, GaNパワー半導体さらには5G,ネットワーク需要のSilicon Photonics 等々社会インフラ向けの市場が活気づく中、個々の半導体を組み合わせるModular化も進行しています。フィールドにおける初期不良を極力抑え込む目的でWafer Level Burin Inが見直されており、AEHR Testではいち早くFOXシリーズでソリューションを提供しています。今回はBurn Inの肝となるWafer Pak / Die Pakコンタクタを展示します。
▫FOX-P シリーズ (Family Of Test & Burn-in Systems)
▫FOX-CP:Singleウエハステッピング対応
▫FOX-NP:Dualウエハ Pak/Die Pak対応
▫FOX-XP:MultiウエハPak/Dei Pak対応
詳細は弊社HPを参照ください。
http://www.ate.co.jp/as/blog/burn-in-test-system/