ATEサービス

▫温度帯域

　・PM135：ｰ30℃ to +125℃

　・PM213：ｰ40℃ to +125℃

　・PM520：ｰ50℃ to +125℃

▫デスクトップサイズ

▫電源AC 100V-220V

▫ハイパースケルトンタイプペルチェ採用

▫温度センサー：PT100Ω

▫PCから温度コントロールが可能

▫16個の温度プリセット可能

▫静音構造

▫温度サイクルテストにも利用可能

▫素早い温度変化

http://www.ate.co.jp/as/blog/dut_peltier/

AEHR Test Systemsは米国カリフォルニア州に拠点を置くBurn In Test Systemの老舗です。
再生可能エネルギーやEVに向けてのSiC, GaNパワー半導体さらには5G,ネットワーク需要のSilicon Photonics 等々社会インフラ向けの市場が活気づく中、個々の半導体を組み合わせるModular化も進行しています。フィールドにおける初期不良を極力抑え込む目的でWafer Level Burin Inが見直されており、AEHR Testではいち早くFOXシリーズでソリューションを提供しています。今回はBurn Inの肝となるWafer Pak / Die Pakコンタクタを展示します。

▫FOX-P シリーズ (Family Of Test ＆ Burn-in Systems)

▫FOX-CP:Singleウエハステッピング対応

▫FOX-NP:Dualウエハ Pak/Die Pak対応

▫FOX-XP:MultiウエハPak/Dei Pak対応

詳細は弊社HPを参照ください。

http://www.ate.co.jp/as/blog/burn-in-test-system/

▫ Advantest 社

・T66xx ファミリー

・T2000

・V93000

・CX1000

・EVA

・T33xx

▫Teradyne社

・ETS800

・UltraFLEX

・microFLEX

・J750/J973/Catalyst

▫Ando AL7275

▫LTX Fusion

▫Schlumberger ITS9000 ファミリー

▫その他各社対応

http://www.ate.co.jp/as/blog/performanceboard/