オントゥ・イノベーションはプロセスコントロールのリーダーであり、最先端技術の拡張されたポートフォリオを兼ね備えています。パターン化されていないウェハーの品質、ナノメータースケールのトランジスタから大規模なダイ配線までのチップ形状を網羅する3D計測、ウェハーとパッケージのマクロ欠陥検査、金属配線の組成、工場分析、高度な半導体パッケージングのためのリソグラフィなどがあります。半導体のバリューチェーン全体にわたって提供する幅広いサービスと、独自の視点でお客様の最も困難な歩留まり、デバイス性能、品質、信頼性の問題の解決を支援します。また、お客様をよりスマートに、より速く、より効率的にすることで、お客様のクリティカルパスの最適化に努めています。米国に本社と製造拠点を置き、世界各地の販売・サービス拠点でお客様をサポートします。詳細については、www.ontoinnovation.com をご覧ください。