構想開始から約10年、研究開発期間4年の歳月を経てNEWテストプラットホーム「WL-EXceed」をリリースしました。
従来から得意としてきたアナログ系デバイス測定のみならず、ミックスドシグナル系やパワーデバイス系のマルチ測定まで、幅広いジャンルの測定をカバーする事が可能です。
お客様のニーズに合わせて、測定機能をADD-ONできる装置アーキテクチャーは、複合化を遂げていく半導体向けの測定ソリューションに多大な貢献ができると確信しております。
「WL-EXceed」における開発コンセプトとして、半導体開発に携わるすべてのお客様の立場に立ち、構想された次世代テスタです。特に着目したものは、従来より更に効率良く装置導入～デバイス開発評価～量産までトータル的にサポートできるソフトウェア開発です。これらソフトウェアはテスト時間の削減から、アプリケーション開発工数の削減、量産メンテナンス性の向上まで、お客様の業務効率化のお役に立てるものとなっております。