東朋テクノロジー

稲沢市下津下町東,  愛知県 
Japan
http://www.toho-tec.co.jp
  • 小間番号5228

弊社ブースでは応力測定装置・膜厚測定装置・マクロ検査装置を取り扱っております。「薄膜ストレス測定装置」、「光干渉式膜厚測定装置」は実機の展示を致します。是非ご覧ください。


 出展製品

  • 応力測定装置FLXシリーズ
    FLX シリーズは、レーザー光線により非接触・非破壊で、薄膜ストレスを高精度・高速に測定できる測定装置です。 ...

  • FLX シリーズは、レーザー光線により非接触・非破壊で、ウェハの表面に成膜された薄膜ストレスを高精度に安定して測定できる測定装置です。
    昇温ヒーターオプションモデルも用意しています。
  • 光干渉式膜厚測定装置TohoSpec
    多層膜同時測定機能を有する光干渉式膜厚測定装置...

  • スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の
    同時測定および光学定数(n, k)を高速に測定します。
    高感度高分解能ヘッド(オプション)設定にて、酸化膜換算で70μmまで測定可能。また、100倍レンズ(φ0.75μmの微小スポット)も使用可能です。
     
  • マクロ検査装置Stealth
    高速高感度に基板全面をスキャニングし、ムラを確認します。 小口径から300mm自動機対応・上位通信まで可能です。...

  • スポット測定の膜厚計では大口径になるほど全面測定が難しく、見逃しがちなムラを高速・高感度に画像コントラストとして表示が可能です。

    300mm自動化や上位通信にも対応し、お客様に最適な装置を提案します。自社開発のソフトアルゴリズムでより高速かつ柔軟な検査モデルを構築できます。

    300mmウェハを1スキャン測定で、PLS0.3um以上の異物検査に対応出来る光学系もラインナップしております。