高密度化が進む先進的なプリント基板では、LVHの増加と小径化が進み、ビアズレや貫通不良、異物やスミア残りなど、後工程において致命的な欠陥となる不具合の早期発見が極めて重要なテーマとなっています。
クライアントの目が厳しくなってきていることからも、レーザービア品質の定量的な管理が必要であることは分かります。しかし、その品質の担保とは、利益を生まない工程に投資を行うことであり、対応できない品番があったり、時間がかかったりなど、半端なスペックの設備では導入効果は得られません。
我々SCREENは、AOIを開発して35年。PCBメーカーの品質課題の解消を信念に、プロセストレンドに合わせた強力な検査アルゴリズムを都度生み出してきましたが、とりわけ穴検査に関しては一貫して強みを発揮してきました。
いま皆様は、新しいプロセスにおいて、レーザービア品質という課題に直面しています。この課題解消のため、我々はこれまでに培った技術力とノウハウをすべて結集し、最高のレーザービア検査装置を作り上げました。
それが、新しいMIYABIです。
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