蓄積された計測・検査技術で、お客様に最適な検査ソリューションをご提供致します。 お気軽にお問い合わせください。
新製品の「IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査」に加え、「ウェハプローバー電気検査」、「SV TCL社の各種プローブカード」「半導体ウェハバンプ光学検査システム」を中心とした、最先端の検査ソリューションをご提案致します。
お客様のご要望に合わせた、最適な検査ソリューションをご提案致しますので、是非ブースへお越しください。