JEMブースではMEMS型プローブカードを展示してみなさまのご来場をお待ちしています。
▶Memory測定向けMC Series（DRAM、NANDFlash）
▶Fine－Pitch測定向けMT Series（SoC/MCU、MPU/AP）
MEMS技術を応用した高精度なPA300㎜-1TD
高密度Probe実装と配線を実現するPI薄膜多層ST
高電流特性と高耐圧性能を提供する微細Probe
短TAT対応型構造
MEMSプローブを採用した垂直型プローブカード
エリアアレイレイアウトに対応
Cupiller実装前測定に対応可能
高電流容量に対応
低針圧で安定接触
プローブ交換が可能