半導体製造に適したハイデンハインの高精度位置決め技術をご紹介します。
ハイデンハインの半導体製造・検査装置向けソリューションとして、
Multi-DOF多自由度測定技術: LIP 6000 DplusおよびGAP 1081
リニアエンコーダ: LIC 3000シリーズ、MC 15シリーズ、LIKgoシリーズ、LIKselectシリーズ
といった、お客様の幅広いニーズに応えた製品を各種出展いたします。
OPTODUR位相格子付きZerodurガラスセラミック
OPTODURミラー付きガラス
アブソリュートコードトラック付スチールスケールテープ
OPTODUR位相格子付きガラスディスク
アブソリュートトラック付スチールスケールドラムもしくはスケールテープ