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新製品の「IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査」に加え、「ウェハプローバー電気検査」、「SV TCL社の各種プローブカード」「半導体ウェハバンプ光学検査システム」を中心とした、最先端の検査ソリューションをご提案致します。
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