Nearfield Instruments

Rotterdam, 
Netherlands
http://www.nearfieldinstruments.com
  • 小間番号3320

Shaping a better world atom by atom

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200 装置、組み立て
  • パッケージシミュレーション/特性測定装置
    • 203 装置、検査及び測定
  • ウェーハ：基板測定/トポロジ/ナノトポグラフィ/平坦度測定/結晶方位
  • ライン幅：クリテカル寸法（CD)測定
  • 欠陥/パーテクル/バンプ/汚染検出、評価、検査
  • 表面測定
  • 顕微鏡：原子間力顕微鏡（AFM)
    • 205 装置、ナノテクノロジー
  • 装置/ナノテクノロジー機器
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  • 検査と計量
    • 305 材料、ナノテクノロジー
  • 材料；ナノテクノロジー
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  • 試験/モニターウェーハ：再生またはバージン
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