カールツァイス

イメージングと分析性能を兼ね備えた高分解能電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）に、次世代集束イオンビーム（FIB）の処理能力を統合。複数のユーザーがいる施設や、学術・産業研究所での研究開発に適しています。Crossbeamのモジュラープラットフォームなら、大量の材料アブレーションにLaserFIBを使用するなど、増大するニーズに合わせて既存システムをアップグレードできます。Crossbeamは、ミリング、イメージングや3D分析においてFIBアプリケーションをスピードアップします。

• SEMで最大限のイメージングを獲得
• FIB試料のスループットを向上
• FIB-SEM分析で最高レベルの3D分解能を実現

ユーザーエクスペリエンスの進化
X 線イメージングの仕組みは複雑です。ZEISS XRM の研究者はユーザーの習慣を調査し、現場の課題を掘り下げ、人間中心設計（HCD）を採用して、初心者でも多忙な環境ですぐに生産性を上げられるようにしました。ZEISS Xradia 630 Versa の新たなユー
ザーインターフェースであるNavX .は、インテリジェントなシステムインサイトを用いて自動化されたワークフローによりユーザーをガイドします。これにより、簡単かつ効率的に実験結果が得られるとともに、経験豊富なユーザーは、プラットフォームの汎用性を最大限活用できます。さらに、NavX File Transfer Utility（FTU）が顕微鏡で作成されたデータを自動的に他の場所に転送するため、ユーザーは必要な時に任意の場所でデータを閲覧可能です。

画期的な分解能
ZEISS Xradia 630 Versa XRM は、40X-Prime（40X-P）対物レンズの高いエネルギー性能により、サブミクロンイメージングの限界をこれまでにないほど押し上げます。
RaaD.（Resolution at a Distance） 技術を搭載したZEISS Xradia Versa プラットフォームでは、様々な種類と広範なサイズのサンプルを高分解能でイメージングすること
ができます。40X-P 対物レンズを搭載し、30 kV ～ 160 kV で450 ～ 500 nm という圧倒的な分解能を実現した本システムにより、研究者は全く新しいアプリケーションで進化したRaaD 2.0 技術を活用できるようになったのです。

生産性の向上
ZEISS Xradia 630 Versa は、これまでにない方法でユーザーと施設の生産性を向上させます。その鍵を握るのは3 つの基本性能です。
1. 新たに構築設計されたNavX のユーザーエクスペリエンスは、高度なXRM 技術を新たに取り入れ、トレーニングにかかる費用を削減します。これにより、幅広い層のユーザーが、使い始めてすぐにXRM イメージングの力を活用できます。
2. 試料に合わせて作業を自動化し、ワークフローを可視化することで、初心者から
エキスパートまで、すべてのユーザーが効率的に結果を取得することが可能です。
3. AI ベースのZEISS DeepScout により、これまでにないレベルで試料を分析できる
ようになりました。分解能と視野の依存関係が解消され、これまで不可能だった新たなアプリケーションが実現します。