NEWテストプラットホーム「PAMS-EXceed」を出展いたします。
「PAMS-EXceed」は、Power系デバイスのマルチ測定や、従来から得意としてきたAnalog系デバイス測定及びMixed-Signal系デバイスまでをカバーする事が可能です。お客様のニーズに合わせて、測定機能をADD-ONできる装置アーキテクチャは、複合化を遂げていく半導体向けの測定ソリューションに多大な貢献ができると確信しております。"PAMS-EXceed"における開発コンセプトは、「半導体開発に携わるすべてのお客様の立場に立ち、構想された次世代テスタ」です。特に着目したものは、従来より更に効率良く導入～デバイス開発評価～量産までのトータル的にサポートできるソフトウェア開発です。これらソフトウェアはテスト時間の削減から、アプリケーション開発工数の削減、量産メンテナンス性の向上まで、お客様の業務効率化のお役に立てるものとなっております。
ご来場の際はぜひお立ち寄りください。