精研

大電流測定が出来るだけでなく電気特性、運用性にも優れております。

プローブの突出量は1～1.5mm程度（ピッチによる）と他のカードに比べて多く、チップハンドラーへのインストール時の調整が楽です。

プローブ交換も上から抜いて新しいピンを挿し直すだけです。

プローブカード本体の金属をヒーターで温めることによりステージとの温度差を無くし、プローブコンタクトによるチップの熱の吸い上げも防ぐことが出来ます。

ワイヤープローブタイプに比べてプローブ全長が半分ほどなので高周波特性（低インダクタンス）に優れます。

半導体検査においてプローブ交換の要因の多くは先端へのハンダの付着、摩耗になります。

プローブのばね性などはまだ十分に使えたとしてもプローブごとの交換となってしまうのが現状です。

精研はプローブ単体だけでなく治具として工夫することにより先端部品だけ交換できるようにいたしました。

これに伴いピン丸ごとご購入するのに比べて大幅にランニングコストを下げることが出来ます。

昨今ではSOPなどの小型デバイスにも数十Aの電流を流す検査が行われています。

従来のプローブは許容電流が相場ですが弊社の独自の端子を用いることにより1端子あたり５０A～を流す測定が出来ます。

QFNなどの電極がペリフェラル配列、モジュールのリードなどへのコンタクトを可能といたします。。

高周波測定においてピンの全長が長いことはネガ要素になります。

プローブメーカーとしてはどこまでピンを短く出来るのか？が課題でした。

従来はL=1.5mmまででしたがこの度L=1.2mmまで短くすることが出来ました。

さらにプローブ径も細くすることによりP=0.4→0.3mmとより狭ピッチにも対応できるようになりまsいた。

ホール素子など非磁性デバイスの測定において磁性体であるプローブは向いておりませんでした。

材料を見直すことにより非磁性化を図り、さらに業界最狭ピッチともいえるP=150umでの針立ても可能としました。

プローブ単体だけではなくプローブカード、ICソケットとしての販売もしております。